Исследование переключающих свойств и эффекта памяти тонких слоев полупроводниковых стекол: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ224004,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Афифи, М. А.
Опубликовано: Л. , 1973
Физические характеристики: 23 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr36503790000
005 20070827150520.0
021 # # $a RU  $b [73-28209а] 
100 # # $a 20070827d1973 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование переключающих свойств и эффекта памяти тонких слоев полупроводниковых стекол  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина) 
210 # # $a Л.  $d 1973 
215 # # $a 23 с. 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Афифи  $b М. А.  $g Махер Атта Абдель Моэз 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070827  $g psbo