|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr36332240000 |
| 005 |
20070810175938.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20070810d1983 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Исследование влияния технологических факторов на напряжение пробоя интегрального транзистора и разработка методов выбора оптимальных параметров структуры
$e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
$e (05.12.18)
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$d 1983
|
| 215 |
# |
# |
$a 25 с.
|
| 300 |
# |
# |
$a В надзаг.: Моск. ин-т электрон. техники. Библиогр.: с. 24-25 (8 назв.). Для служеб. пользования
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.382.015.5:621.3.049.774.3.001.2
|
| 686 |
# |
# |
$a 05.12.18
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$a Аронов
$b М. Д.
$g Михаил Давидович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070810
$g psbo
|
