Исследование некоторых несовершенств кристаллической структуры и параметров полупроводников методами ИК-интроскопии: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ399647,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Амиров, Ю. Я.
Опубликовано: Л. , 1981
Физические характеристики: 22 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr36056600000
005 20070810173248.0
021 # # $a RU  $b [81-4990а] 
100 # # $a 20070810d1981 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование некоторых несовершенств кристаллической структуры и параметров полупроводников методами ИК-интроскопии  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук 
210 # # $a Л.  $d 1981 
215 # # $a 22 с. 
300 # # $a В надзаг.: АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Библиогр.: с. 21-22 (11 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Амиров  $b Ю. Я.  $g Юрий Яковлевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070810  $g psbo