Исследование некоторых несовершенств кристаллической структуры и параметров полупроводников методами ИК-интроскопии: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Амиров, Ю. Я. |
Опубликовано: | Л. , 1981 |
Физические характеристики: |
22 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr36056600000 | ||
005 | 20070810173248.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [81-4990а] |
100 | # | # | $a 20070810d1981 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование некоторых несовершенств кристаллической структуры и параметров полупроводников методами ИК-интроскопии $e (01.04.10) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук |
210 | # | # | $a Л. $d 1981 |
215 | # | # | $a 22 с. |
300 | # | # | $a В надзаг.: АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Библиогр.: с. 21-22 (11 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Амиров $b Ю. Я. $g Юрий Яковлевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070810 $g psbo |