Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники / Ин-т точной механики и вычислит. техники АН СССР
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Алексеев, В. Я. |
| Опубликовано: | М. , 1969 |
| Физические характеристики: |
41 с. : черт. ; 22 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||