Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники / Ин-т точной механики и вычислит. техники АН СССР
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Алексеев, В. Я. |
Опубликовано: | М. , 1969 |
Физические характеристики: |
41 с. : черт. ; 22 см
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
00000nam0a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr35884530000 | ||
005 | 20070808141945.0 | ||
010 | # | # | $d 20 к. |
021 | # | # | $a RU $b [70-23995] |
100 | # | # | $a 20070808d1969 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники $f Ин-т точной механики и вычислит. техники АН СССР |
210 | # | # | $a М. $d 1969 |
215 | # | # | $a 41 с. $c черт. $d 22 см |
610 | 0 | # | $a Микроэлектронные схемы - Контроль по тепловому излучению |
610 | 0 | # | $a Вычислительные машины электронные - Контроль |
675 | # | # | $a 681.327.17 |
700 | # | 1 | $a Алексеев $b В. Я. |
701 | # | 1 | $a Алексеев $b Ю. Е. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070808 $g psbo |