Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Отв. ред. Л. С. Смирнов

Gespeichert in:
Шифр документа: АУ585021, М82915,
Format: Книги
1. Verfasser: Александров, Л. Н.
Veröffentlicht: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1979
Beschreibung: 159 с. : ил. ; 21 см
Sprache: Русский
Schlagworte:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Verfügbar  Bestellen

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АУ585021 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:2:5:137 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
М82915 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:4:161 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал