Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках / Отв. ред. Л. С. Смирнов

Сохранено в:
Шифр документа: АУ585021, М82915,
Вид документа: Книги
Автор: Александров, Л. Н.
Опубликовано: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1979
Физические характеристики: 159 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АУ585021 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:2:5:137 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
М82915 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:4:161 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал