|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr35853710000 |
| 005 |
20070808141137.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 1 р.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [79-72643]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070808d1979 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках
$f Отв. ред. Л. С. Смирнов
|
| 210 |
# |
# |
$a Новосибирск
$c Наука. Сиб. отд-ние
$d 1979
|
| 215 |
# |
# |
$a 159 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 300 |
# |
# |
$a В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 2500 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Трение внутреннее
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322
|
| 700 |
# |
1 |
$a Александров
$b Л. Н.
$g Леонид Наумович
|
| 701 |
# |
1 |
$a Зотов
$b М. И.
$g Михаил Иванович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070808
$g psbo
|
