Исследование собственных дефектов решетки и их ассоциаций с примесями в кристаллах теллурида кадмия: (049): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Ин-т полупроводников АН УССР
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Агринская, Н. В. |
Опубликовано: | Л. , 1971 |
Физические характеристики: |
13 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr35678900000 | ||
005 | 20070808130748.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [71-5747а] |
100 | # | # | $a 20070808d1971 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование собственных дефектов решетки и их ассоциаций с примесями в кристаллах теллурида кадмия $e (049) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $f АН СССР. Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе. Ин-т полупроводников АН УССР |
210 | # | # | $a Л. $d 1971 |
215 | # | # | $a 13 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 12-13 |
686 | # | # | $a 049 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Агринская $b Н. В. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070808 $g psbo |