Альфа-спектрометрический метод определения степени кристалличности тонких полимерных пленок: (01.04.16): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ414807,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Абильдаев, А. Х.
Опубликовано: Ташкент , 1981
Физические характеристики: 22 с. : ил.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr35535410000
005 20070807202512.0
021 # # $a RU  $b [81-20353а] 
100 # # $a 20070807d1981 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UZ 
200 1 # $a Альфа-спектрометрический метод определения степени кристалличности тонких полимерных пленок  $e (01.04.16)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Ташкент  $d 1981 
215 # # $a 22 с.  $c ил. 
300 # # $a В надзаг.: АН УзССР, Ин-т ядер. физики. Библиогр.: с. 21-22 (9 назв.) 
686 # # $a 01.04.16  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Абильдаев  $b А. Х.  $g Адилхан Хасенович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070807  $g psbo