|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr35389890000 |
005 |
20070807145211.0 |
010 |
# |
# |
$d 23 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [69-39575]
|
100 |
# |
# |
$a 20070807d1969 y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Надежность интегральных полупроводниковых схем
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c Изд. стандартов
$d 1969
|
215 |
# |
# |
$a 74 с.
$c черт.
$d 21 см
|
300 |
# |
# |
$a На обл.: Надежность, качество. Библиогр.: с. 72-73 (29 назв.). Перед загл. авт.: И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов
|
345 |
# |
# |
$9 5000 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы интегральные - Надежность
|
675 |
# |
# |
$a 658.562
|
700 |
# |
1 |
$a Ефимов
$b И. Е.
|
701 |
# |
1 |
$a Кальман
$b И. Г.
|
701 |
# |
1 |
$a Мартынов
$b В. И.
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070807
$g psbo
|