Надежность интегральных полупроводниковых схем

Сохранено в:
Шифр документа: АНД618843,
Вид документа: Книги
Автор: Ефимов, И. Е.
Опубликовано: М. : Изд. стандартов , 1969
Физические характеристики: 74 с. : черт. ; 21 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr35389890000
005 20070807145211.0
010 # # $d 23 к. 
021 # # $a RU  $b [69-39575] 
100 # # $a 20070807d1969 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Надежность интегральных полупроводниковых схем 
210 # # $a М.  $c Изд. стандартов  $d 1969 
215 # # $a 74 с.  $c черт.  $d 21 см 
300 # # $a На обл.: Надежность, качество. Библиогр.: с. 72-73 (29 назв.). Перед загл. авт.: И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов 
345 # # $9 5000 экз. 
610 0 # $a Микроэлектронные схемы интегральные - Надежность 
675 # # $a 658.562 
700 # 1 $a Ефимов  $b И. Е. 
701 # 1 $a Кальман  $b И. Г. 
701 # 1 $a Мартынов  $b В. И. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070807  $g psbo