|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr35230000000 |
| 005 |
20070807142927.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 15 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [83-92178]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070807d1983 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы исследования дефектов структуры полупроводников
$e Учеб. пособие
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c МИТХТ
$d 1983
|
| 215 |
# |
# |
$a 88 с.
$c ил.
$d 20 см
|
| 300 |
# |
# |
$a На обл. авт. не указан. В надзаг.: Моск. ин-т хим. машиностроения. Библиогр.: с. 88 (6 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 300 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322:548.4(075.8)
|
| 700 |
# |
1 |
$a Елисеев
$b А. А.
$g Аркадий Александрович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070807
$g psbo
|
