Методы исследования структуры полупроводников: Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей. (Курс лекций) / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников

Сохранено в:
Шифр документа: АНД803832,
Вид документа: Книги
Автор: Дубровина, А. Н.
Опубликовано: М. , 1973
Физические характеристики: 68 с. : черт. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АНД803832 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:1:5:159 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал