Методы исследования структуры полупроводников: Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей. (Курс лекций) / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников

Сохранено в:
Шифр документа: АНД803832,
Вид документа: Книги
Автор: Дубровина, А. Н.
Опубликовано: М. , 1973
Физические характеристики: 68 с. : черт. ; 20 см
Язык: Русский
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr35015420000
005 20070802190044.0
010 # # $d 12 к. 
021 # # $a RU  $b [73-48359] 
100 # # $a 20070802d1973 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы исследования структуры полупроводников  $e Исследование структуры кристаллов методом расходящегося пучка рентгеновских лучей. (Курс лекций)  $f Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников  $g Под ред. проф. С. С. Горелика 
210 # # $a М.  $d 1973 
215 # # $a 68 с.  $c черт.  $d 20 см 
300 # # $a Список лит.: с. 67-68 (19 назв.) 
345 # # $9 300 экз. 
610 0 # $a Полупроводники - Структура - Исследование 
675 # # $a 669+621.315.592]:620.18(075.8) 
700 # 1 $a Дубровина  $b А. Н. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070802  $g psbo