Методы исследования структуры металлов и полупроводниковых материалов : Учеб. пособие / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников. Оптическая микроскопия
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | 1972 |
| Физические характеристики: |
120 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
Загрузка