![](/themes/root/images/default-cover.png)
Методы исследования структуры металлов и полупроводниковых материалов : Учеб. пособие / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников. Оптическая микроскопия
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | 1972 |
Физические характеристики: |
120 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
Загрузка