Методы исследования структуры металлов и полупроводниковых материалов : Учеб. пособие / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников. Оптическая микроскопия

Сохранено в:
Шифр документа: АН778539, АУ446110,
Вид документа: Книги
Опубликовано: 1972
Физические характеристики: 120 с. : черт.
Язык: Русский
Предмет:
00000nam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr35015410002
005 20070802190044.0
010 # # $d 20 к. 
021 # # $a RU  $b [72-91127] 
100 # # $a 20070802d1972 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a Оптическая микроскопия 
210 # # $d 1972 
215 # # $a 120 с.  $c черт. 
300 # # $a Списки лит. в конце разделов 
345 # # $9 475 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr35015410000  $1 2000   $v Ч. 1 
610 0 # $a Металлы - Структура - Исследование 
610 0 # $a Полупроводники - Структура - Исследование 
675 # # $a 669+621.315.592]:620.18(075.8) 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070802  $g psbo 
830 # # $a АН778539;АУ446110;