Тестовые схемы и методы контроля технологического процесса создания интегральных микросхем: (Применительно к гибким произв. системам) : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.27.01) / Мин. радиотехн. ин-т

Сохранено в:
Шифр документа: 97477/89СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Дробыш, П. П.
Опубликовано: Мн. , 1989
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr34954260000
005 20070802182529.0
100 # # $a 20070802d1989 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a BY 
200 1 # $a Тестовые схемы и методы контроля технологического процесса создания интегральных микросхем  $e (Применительно к гибким произв. системам) : Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.27.01)  $f Мин. радиотехн. ин-т 
210 # # $a Мн.  $d 1989 
215 # # $a 17 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 15-17 (18 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Дробыш  $b П. П.  $g Петр Павлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070802  $g psbo