Метод и технические средства стохастического функционального контроля полупроводниковых БИС ОЗУ: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.01) / Моск. ин-т электрон. техники

Сохранено в:
Шифр документа: 16821/87СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Долгушев, И. В.
Опубликовано: М. , 1987
Физические характеристики: 25 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr34844950000
005 20070802151634.0
100 # # $a 20070802d1987 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Метод и технические средства стохастического функционального контроля полупроводниковых БИС ОЗУ  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.01)  $f Моск. ин-т электрон. техники 
210 # # $a М.  $d 1987 
215 # # $a 25 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 23-25 (13 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.13.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Долгушев  $b И. В.  $g Игорь Владимирович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070802  $g psbo