Исследование межфазных границ в системах МДП методом масс-спектрометрии вторичных ионов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Диденко, П. И. |
| Опубликовано: | Киев , 1982 |
| Физические характеристики: |
20 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr34702510000 | ||
| 005 | 20070801172840.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070801d1982 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a UA |
| 200 | 1 | # | $a Исследование межфазных границ в системах МДП методом масс-спектрометрии вторичных ионов $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.10) |
| 210 | # | # | $a Киев $d 1982 |
| 215 | # | # | $a 20 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: АН УССР. Ин-т полупроводников. Библиогр.: с. 17-19 (18 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Диденко $b П. И. $g Петр Иванович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070801 $g psbo |