Применение микроспектрофотометрии для контроля качества полупроводниковых материалов и структур твердотельной электроники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.07) / Ленингр. ин-т точ. механики и оптики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Дернятин, А. И. |
| Опубликовано: | Л. , 1990 |
| Физические характеристики: |
18 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr34598490000 | ||
| 005 | 20070801164143.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070801d1990 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Применение микроспектрофотометрии для контроля качества полупроводниковых материалов и структур твердотельной электроники $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.11.07) $f Ленингр. ин-т точ. механики и оптики |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1990 |
| 215 | # | # | $a 18 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 17-18 (11 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 05.11.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Дернятин $b А. И. $g Александр Игоревич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070801 $g psbo |