Исследование полупроводниковых терморезисторов с целью их применения в электроизмерительных и поверочных устройствах инфразвукового диапазона частот: (05.246): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ153801,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Данелян, А. Г.
Опубликовано: Л. , 1970
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr34383270000
005 20070727174155.0
021 # # $a RU  $b [70-25817а] 
100 # # $a 20070727d1970 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование полупроводниковых терморезисторов с целью их применения в электроизмерительных и поверочных устройствах инфразвукового диапазона частот  $e (05.246)  $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук  $f Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева 
210 # # $a Л.  $d 1970 
215 # # $a 18 с. 
686 # # $a 05.246  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Данелян  $b А. Г. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070727  $g psbo