Исследование полупроводниковых терморезисторов с целью их применения в электроизмерительных и поверочных устройствах инфразвукового диапазона частот: (05.246): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Данелян, А. Г. |
Опубликовано: | Л. , 1970 |
Физические характеристики: |
18 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr34383270000 | ||
005 | 20070727174155.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [70-25817а] |
100 | # | # | $a 20070727d1970 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование полупроводниковых терморезисторов с целью их применения в электроизмерительных и поверочных устройствах инфразвукового диапазона частот $e (05.246) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии им. Д. И. Менделеева |
210 | # | # | $a Л. $d 1970 |
215 | # | # | $a 18 с. |
686 | # | # | $a 05.246 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Данелян $b А. Г. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070727 $g psbo |