Разработка методов измерения параметров сверхгладких поверхностей и исследование влияния субнанометровых неровностей на рентгенооптические свойства многослойных структур: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07) / Нижегор. гос. ун-т им. Н. И. Лобачевского

Сохранено в:
Шифр документа: 179169/92,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Гусев, С. А. (род. 1957)
Опубликовано: Н. Новгород , 1992
Физические характеристики: 19 с.
Язык: Русский
00000cam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr34266500000
005 20210211202651.0
100 # # $a 20070727d1992 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка методов измерения параметров сверхгладких поверхностей и исследование влияния субнанометровых неровностей на рентгенооптические свойства многослойных структур  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.07)  $f Нижегор. гос. ун-т им. Н. И. Лобачевского 
210 # # $a Н. Новгород  $d 1992 
215 # # $a 19 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 16-18 (21 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-NLB-ar13418432  $a Гусев  $b С. А.  $g Сергей Александрович  $c кандидат физико-математических наук, физик  $f род. 1957 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070727  $g psbo