|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr34259500000 |
| 005 |
20070727164122.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 5 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [81-18581]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070727d1980 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a UA
|
| 200 |
1 |
# |
$a Технологические методы обеспечения надежности и качества изделий микроэлектроники
|
| 210 |
# |
# |
$a Киев
$c о-во «Знание» УССР
$d 1980
|
| 215 |
# |
# |
$a 20 с., 1 л. табл.
$d 20 см
|
| 300 |
# |
# |
$a В вып. дан. 2-й авт.: Николай Виталиевич Шевченко. В надзаг.: о-во «Знание» УССР. Библиогр.: с. 19-20 (16 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 299 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Микроэлектронные схемы - Надежность
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.019.3
|
| 700 |
# |
1 |
$a Гусев
$b В. А.
$g Владимир Александрович
|
| 701 |
# |
1 |
$a Шевченко
$b Н. В.
$g Николай Витальевич
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070727
$g psbo
|
