Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в базе симметричной p-i-n- структуры модификациями метода Лэкса

Сохранено в:
Шифр документа: 93814,
Вид документа: Книги
Автор: Грессеров, Б. Н.
Опубликовано: Л. , 1985
Физические характеристики: 14 с.
Язык: Русский
Серия: Препринт 978
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr33926790000
005 20160226093237.0
010 # # $d Беспл. 
021 # # $a RU  $b [85-99372] 
100 # # $a 20070720d1985 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в базе симметричной p-i-n- структуры модификациями метода Лэкса 
210 # # $a Л.  $d 1985 
215 # # $a 14 с. 
225 2 # $a Препринт  $f АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иосифе  $v 978 
300 # # $a Библиогр.: с. 13 (6 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
610 0 # $a Диоды 
675 # # $a 621.385.03 
700 # 1 $a Грессеров  $b Б. Н.  $g Борис Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070720  $g psbo