Исследование радиационного повреждения полупроводников и диэлектриков в процессе ионного внедрения с использованием характеристического рентгеновского излучения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Горшков, О. Н. |
| Опубликовано: | Горький , 1980 |
| Физические характеристики: |
15 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||