Исследование радиационного повреждения полупроводников и диэлектриков в процессе ионного внедрения с использованием характеристического рентгеновского излучения: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Горшков, О. Н. |
| Опубликовано: | Горький , 1980 |
| Физические характеристики: |
15 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr33821540000 | ||
| 005 | 20070720184052.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070720d1980 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование радиационного повреждения полупроводников и диэлектриков в процессе ионного внедрения с использованием характеристического рентгеновского излучения $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.10) |
| 210 | # | # | $a Горький $d 1980 |
| 215 | # | # | $a 15 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: Горьков. гос. ун-т им. Н. И. Лобачевского. Библиогр.: с. 14-15 (8 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Горшков $b О. Н. $g Олег Николаевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070720 $g psbo |