Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки

Сохранено в:
Шифр документа: М201040,
Вид документа: Книги
Автор: Головко, М. Ф.
Опубликовано: Киев : ИТФ , 1982
Физические характеристики: 29 с. : ил. ; 20 см
Язык: Русский
Серия: Препринт ИТФ-82-83Р
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr33579790000
005 20070720143322.0
010 # # $d 10 к. 
021 # # $a RU  $b [82-55249] 
100 # # $a 20070720d1982 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Исследование экранированных потенциалов и профилей плотности ионных систем вблизи заряженной абсолютно твердой стенки 
210 # # $a Киев  $c ИТФ  $d 1982 
215 # # $a 29 с.  $c ил.  $d 20 см 
225 2 # $a Препринт  $f Ин-т теорет. физики  $v ИТФ-82-83Р 
300 # # $a Библиогр.: с. 28-29 (15 назв.) 
345 # # $9 295 экз. 
610 0 # $a Твердые тела - Действие ионизирующих излучений 
610 0 # $a Ионы - Взаимодействие с поверхностью твердых тел 
675 # # $a 539.2:539.1.04 
700 # 1 $a Головко  $b М. Ф.  $g Мирослав Федорович 
701 # 1 $a Пизио  $b О. А.  $g Орест Александрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070720  $g psbo