Исследование электропроводности, теплового расширения и сжимаемости пленок полупроводника CuS при низких температурах: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН АзССР. Ин-т физики
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Годжаев, Ф. Р. |
Опубликовано: | Баку , 1973 |
Физические характеристики: |
13 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr33525150000 | ||
005 | 20070720142757.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [74-98а] |
100 | # | # | $a 20070720d1973 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a AZ |
200 | 1 | # | $a Исследование электропроводности, теплового расширения и сжимаемости пленок полупроводника CuS при низких температурах $e (01.04.10) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук $f АН АзССР. Ин-т физики |
210 | # | # | $a Баку $d 1973 |
215 | # | # | $a 13 с. |
300 | # | # | $a Список лит.: с. 12-13 (16 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.10 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Годжаев $b Ф. Р. $g Фарман Рза оглы |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070720 $g psbo |