Исследование электропроводности, теплового расширения и сжимаемости пленок полупроводника CuS при низких температурах: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН АзССР. Ин-т физики

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ223545,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Годжаев, Ф. Р.
Опубликовано: Баку , 1973
Физические характеристики: 13 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr33525150000
005 20070720142757.0
021 # # $a RU  $b [74-98а] 
100 # # $a 20070720d1973 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a AZ 
200 1 # $a Исследование электропроводности, теплового расширения и сжимаемости пленок полупроводника CuS при низких температурах  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f АН АзССР. Ин-т физики 
210 # # $a Баку  $d 1973 
215 # # $a 13 с. 
300 # # $a Список лит.: с. 12-13 (16 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Годжаев  $b Ф. Р.  $g Фарман Рза оглы 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070720  $g psbo