Анализ структурных способов обеспечения надежности запоминающих устройств на БИС: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ467652СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Гебгарт, В. Н.
Опубликовано: Л. , 1983
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr33225330000
005 20070718130347.0
100 # # $a 20070718d1983 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Анализ структурных способов обеспечения надежности запоминающих устройств на БИС  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05) 
210 # # $a Л.  $d 1983 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a В надзаг.: Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина). Библиогр.: с. 17-18 (9 назв.). Для служеб. пользования 
675 # # $a 681.3.67-192 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Гебгарт  $b В. Н.  $g Владимир Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070718  $g psbo