Анализ структурных способов обеспечения надежности запоминающих устройств на БИС: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Гебгарт, В. Н. |
Опубликовано: | Л. , 1983 |
Физические характеристики: |
18 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr33225330000 | ||
005 | 20070718130347.0 | ||
100 | # | # | $a 20070718d1983 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Анализ структурных способов обеспечения надежности запоминающих устройств на БИС $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.13.05) |
210 | # | # | $a Л. $d 1983 |
215 | # | # | $a 18 с. |
300 | # | # | $a В надзаг.: Ленингр. электротехн. ин-т им. В. И. Ульянова (Ленина). Библиогр.: с. 17-18 (9 назв.). Для служеб. пользования |
675 | # | # | $a 681.3.67-192 |
686 | # | # | $a 05.13.05 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Гебгарт $b В. Н. $g Владимир Николаевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070718 $g psbo |