Разработка и исследование методов повышения и оценки надежности полупроводниковых оперативных запоминающих устройств с корректирующими кодами: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ484037СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Гарбузов, Н. И.
Опубликовано: М. , 1983
Физические характеристики: 18 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr33163840000
005 20070717203734.0
100 # # $a 20070717d1983 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка и исследование методов повышения и оценки надежности полупроводниковых оперативных запоминающих устройств с корректирующими кодами  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05) 
210 # # $a М.  $d 1983 
215 # # $a 18 с. 
300 # # $a В надзаг.: Моск. энерг. ин-т. Библиогр.: с. 17-18 (6 назв.). Для служеб. пользования 
675 # # $a 681.327.67.019.3.001.5(043) 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Гарбузов  $b Н. И.  $g Николай Иванович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070717  $g psbo