Послойный анализ благородных металлов и композитов на их основе методом масс-спектрометрии вторичных ионов: (02.00.02): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук

Сохранено в:
Шифр документа: 10105/86,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Фатюшина, Е. В.
Опубликовано: М. , 1985
Физические характеристики: 17 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr32774890000
005 20070717182500.0
021 # # $a RU  $b [85-16336а] 
100 # # $a 20070717d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Послойный анализ благородных металлов и композитов на их основе методом масс-спектрометрии вторичных ионов  $e (02.00.02)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук 
210 # # $a М.  $d 1985 
215 # # $a 17 с.  $c граф. 
300 # # $a В надзаг.: Гос. н.-и. и проект. ин-т редкометал. пром-сти. Библиогр.: с. 16-17 (8 назв.) 
686 # # $a 02.00.02  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Фатюшина  $b Е. В.  $g Елена Владимировна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070717  $g psbo