Развитие структурной протонографии в области исследования тонких приповерхностных слоев кристаллов и тонких пленок с помощью протонограмм: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Харьк. гос. ун-т им. А. М. Горького

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ296716,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Файнштейн, А. Л.
Опубликовано: Харьков , 1976
Физические характеристики: 24 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr32737990000
005 20070716153059.0
021 # # $a RU  $b [76-10588а] 
100 # # $a 20070716d1976 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Развитие структурной протонографии в области исследования тонких приповерхностных слоев кристаллов и тонких пленок с помощью протонограмм  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f Харьк. гос. ун-т им. А. М. Горького 
210 # # $a Харьков  $d 1976 
215 # # $a 24 с.  $c граф. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 24 (8 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Файнштейн  $b А. Л.  $g Александр Львович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070716  $g psbo