|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr32265120000 |
005 |
20161004135540.0 |
010 |
# |
# |
$d Б. ц.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [86-47211]
|
100 |
# |
# |
$a 20070709d1986 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Фотоемкостная спектроскопия глубоких уровней в полупроводниках
|
210 |
# |
# |
$a Новосибирск
$d 1986
|
215 |
# |
# |
$a 46 с.
$c рис.
|
225 |
2 |
# |
$a Препр.
$f АН СССР. Сиб. отд-ние Ин-т физики полупроводников
$v 8-85
|
300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 43-46 (36 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 200 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Спектроскопия
|
675 |
# |
# |
$a 621.315.592:53.53
|
700 |
# |
1 |
$a Торчинов
$b Х. З.
$g Хаджи-Мурат Заурбекович
|
701 |
# |
1 |
$a Бобылев
$b Б. А.
$g Борис Александрович
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070709
$g psbo
|