Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.13) / Ереван. НИИ математ. машин
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Торосян, Т. С. |
| Опубликовано: | Ереван , 1990 |
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||