Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.13) / Ереван. НИИ математ. машин
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Торосян, Т. С. |
| Опубликовано: | Ереван , 1990 |
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr32262460000 | ||
| 005 | 20070709160524.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070709d1990 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a AM |
| 200 | 1 | # | $a Исследование и разработка методов моделирования полупроводниковых памятей и неисправностей в них для построения тестов минимальной длины $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.13.13) $f Ереван. НИИ математ. машин |
| 210 | # | # | $a Ереван $d 1990 |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 16-17 (10 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 05.13.13 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Торосян $b Т. С. $g Тигран Сурикович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070709 $g psbo |