Разработка параметрических методов контроля качества полупроводниковых интегральных схем: (05.13.01): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Тихомиров, С. Н. |
| Опубликовано: | Рига , 1980 |
| Физические характеристики: |
21 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr32088540000 | ||
| 005 | 20070704194843.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [80-7786а] |
| 100 | # | # | $a 20070704d1980 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a LV |
| 200 | 1 | # | $a Разработка параметрических методов контроля качества полупроводниковых интегральных схем $e (05.13.01) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук |
| 210 | # | # | $a Рига $d 1980 |
| 215 | # | # | $a 21 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: АН ЛатвССР, Ин-т электрон. и вычисл. техники. Библиогр.: с. 20-21 (6 назв.) |
| 686 | # | # | $a 05.13.01 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Тихомиров $b С. Н. $g Сергей Николаевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070704 $g psbo |