Анализ и разработка методов повышения надежности полупроводниковых постоянных запоминающих устройств и оценка эффективности их использования: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ488503,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Терзян, О. А.
Опубликовано: Ереван , 1984
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr31982350000
005 20070704194018.0
100 # # $a 20070704d1984 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a AM 
200 1 # $a Анализ и разработка методов повышения надежности полупроводниковых постоянных запоминающих устройств и оценка эффективности их использования  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.13.05) 
210 # # $a Ереван  $d 1984 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a В надзаг.: Ерев. политехн. ин-т им. К. Маркса. Библиогр.: с. 20 (16 назв.) 
686 # # $a 05.13.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Терзян  $b О. А.  $g Оник Артемович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070704  $g psbo