Полевая ионная микроскопия ВТСП материалов: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / АН СССР, Урал. отд-ние, Ин-т физики металлов, Специализир. совет

Сохранено в:
Шифр документа: 132179/90,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Таланцев, Е. Ф.
Опубликовано: Свердловск , 1990
Физические характеристики: 15, [1] с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr31782780000
005 20070704190517.0
021 # # $a RU  $b [90-26934а] 
100 # # $a 20070704d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Полевая ионная микроскопия ВТСП материалов  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f АН СССР, Урал. отд-ние, Ин-т физики металлов, Специализир. совет 
210 # # $a Свердловск  $d 1990 
215 # # $a 15, [1] с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 14-16 (22 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Таланцев  $b Е. Ф.  $g Евгений Федорович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070704  $g psbo