Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Пер. с англ. под ред. В. Н. Рожанского

Сохранено в:
Шифр документа: 177029, АР522762, 155193,
Вид документа: Книги
Автор: Спенс, Д.
Опубликовано: М. : Наука , 1986
Физические характеристики: 319, [1] с., [1] л. ил. : ил. ; 23 см
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr31275250000
005 20170414153557.0
010 # # $b В пер.  $d 3 р. 70 к. 
021 # # $a RU  $b [86-96539] 
100 # # $a 20070628d1986 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения  $f Пер. с англ. под ред. В. Н. Рожанского 
210 # # $a М.  $c Наука  $d 1986 
215 # # $a 319, [1] с., [1] л. ил.  $c ил.  $d 23 см 
300 # # $a Загл. корешка: Электронная микроскопия высокого разрешения. - Библиогр.: с. 313-320. - Перевод изд.: Experimental high-resolution ebectron microscopy / John C. H. Spense (Oxford, 1981) 
345 # # $9 2600 экз. 
610 0 # $a Электронная микроскопия 
675 # # $a 537.533.35 
700 # 1 $a Спенс  $b Д.  $g Джон 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070628  $g psbo