|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
001 |
BY-NLB-rr31275250000 |
005 |
20170414153557.0 |
010 |
# |
# |
$b В пер.
$d 3 р. 70 к.
|
021 |
# |
# |
$a RU
$b [86-96539]
|
100 |
# |
# |
$a 20070628d1986 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
200 |
1 |
# |
$a Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
$f Пер. с англ. под ред. В. Н. Рожанского
|
210 |
# |
# |
$a М.
$c Наука
$d 1986
|
215 |
# |
# |
$a 319, [1] с., [1] л. ил.
$c ил.
$d 23 см
|
300 |
# |
# |
$a Загл. корешка: Электронная микроскопия высокого разрешения. - Библиогр.: с. 313-320. - Перевод изд.: Experimental high-resolution ebectron microscopy / John C. H. Spense (Oxford, 1981)
|
345 |
# |
# |
$9 2600 экз.
|
610 |
0 |
# |
$a Электронная микроскопия
|
675 |
# |
# |
$a 537.533.35
|
700 |
# |
1 |
$a Спенс
$b Д.
$g Джон
|
801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070628
$g psbo
|