Исследование электрического поля и характеристик ионизированных облучением межэлектродных промежутков при постоянном направлении: (05.282): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Моск. энерг. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Слышалов, В. К. |
| Опубликовано: | М. , 1970 |
| Физические характеристики: |
25 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr30881160000 | ||
| 005 | 20070618191530.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [70-2567а] |
| 100 | # | # | $a 20070618d1970 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование электрического поля и характеристик ионизированных облучением межэлектродных промежутков при постоянном направлении $e (05.282) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Моск. энерг. ин-т |
| 210 | # | # | $a М. $d 1970 |
| 215 | # | # | $a 25 с. |
| 686 | # | # | $a 05.282 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Слышалов $b В. К. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070618 $g psbo |