Разработка и исследование методов и средств повышения точности объективного наведения на штрихи шкал: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.01)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Сихарулидзе, В. М. |
| Опубликовано: | Л. , 1979 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr30740880000 | ||
| 005 | 20070618183949.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070618d1979 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Разработка и исследование методов и средств повышения точности объективного наведения на штрихи шкал $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.11.01) |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1979 |
| 215 | # | # | $a 22 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева. Библиогр.: с. 22 (10 назв.) |
| 686 | # | # | $a 05.11.01 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Сихарулидзе $b В. М. $g Важа Михайлович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070618 $g psbo |