|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr30041140000 |
| 005 |
20191008133137.0 |
| 010 |
# |
# |
$a 5-420-00046-6
$b в пер.
$d 2 р. 50 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [88-44042]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070612d1988 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a LT
|
| 200 |
1 |
# |
$a Точечные дефекты в полупроводниковых соединениях
$d Point defects in semiconductor compounds
|
| 210 |
# |
# |
$a Вильнюс
$c Мокслас
$d 1988
|
| 215 |
# |
# |
$a 153, [1] с.
$c ил.
$d 22 см
|
| 300 |
# |
# |
$a Рез.: литов., англ. - Библиогр.: с. 136-151
|
| 345 |
# |
# |
$9 1000 экз.
|
| 510 |
1 |
# |
$a Point defects in semiconductor compounds
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводниковые соединения - Дефекты точечные
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322:548.4
|
| 700 |
# |
1 |
$a Сакалас
$b А. П.
$g Алоизас Пятрович
|
| 701 |
# |
1 |
$a Янушкявичюс
$b З. В.
$g Зигмас-Раймундас Витаутович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070612
$g psbo
|
