Надежность полупроводниковых приборов: (Мощных СВЧ транзисторов). (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции) / Всесоюз. о-во "Знание". Политехн. музей...

Сохранено в:
Шифр документа: АНД951622,
Вид документа: Книги
Автор: Савина, А. С.
Опубликовано: М. : Знание , 1976
Физические характеристики: 46 с. : ил.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr29944880000
005 20070612193827.0
010 # # $d 11 к. 
021 # # $a RU  $b [76-86883] 
100 # # $a 20070612d1976 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Надежность полупроводниковых приборов  $e (Мощных СВЧ транзисторов). (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции)  $f Всесоюз. о-во "Знание". Политехн. музей... 
210 # # $a М.  $c Знание  $d 1976 
215 # # $a 46 с.  $c ил. 
300 # # $a Перед загл. авт.: А. С. Савина, В. Ф. Синкевич, С. С. Пруслина 
345 # # $9 1750 экз. 
675 # # $a 621.382.019.3 
700 # 1 $a Савина  $b А. С.  $g Анна Сергеевна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070612  $g psbo