Закономерности формирования электрофизических свойств толстых пленок на основе тугоплавких боридов и оксидов и разработка с их использованием новых материалов для микроэлектроники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (01.04.07) / АН УССР, Ин-т проблем материаловедения им. И. Н. Францевича

Сохранено в:
Шифр документа: 116855/90СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Рудь, Б. М.
Опубликовано: Киев , 1990
Физические характеристики: 36 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr29727440000
005 20070608172427.0
100 # # $a 20070608d1990 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Закономерности формирования электрофизических свойств толстых пленок на основе тугоплавких боридов и оксидов и разработка с их использованием новых материалов для микроэлектроники  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук  $e (01.04.07)  $f АН УССР, Ин-т проблем материаловедения им. И. Н. Францевича 
210 # # $a Киев  $d 1990 
215 # # $a 36 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 31-36 (57 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Рудь  $b Б. М.  $g Борис Михайлович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070608  $g psbo