Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ509257,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Росола, И. И.
Опубликовано: Кишинев , 1985
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr29631460000
005 20070608153512.0
021 # # $a RU  $b [85-13136а] 
100 # # $a 20070608d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a MD 
200 1 # $a Исследование структуры стеклообразных полупроводников системы Ge-As-S-J методами ИК и КР спектроскопии  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Кишинев  $d 1985 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a В надзаг.: АН МССР, Ин-т прикл. физики. Библиогр.: с. 19-20 (20 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Росола  $b И. И.  $g Иван Иосифович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070608  $g psbo