Микроморфологические и структурные особенности роста тонких пленок кремния и германия на чистой поверхности кремния: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ359601,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Пчеляков, О. П.
Опубликовано: Новосибирск , 1979
Физические характеристики: 14 с. : схем.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr29078670000
005 20070530131644.0
021 # # $a RU  $b [79-9070а] 
100 # # $a 20070530d1979 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Микроморфологические и структурные особенности роста тонких пленок кремния и германия на чистой поверхности кремния  $e (01.04.07)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук 
210 # # $a Новосибирск  $d 1979 
215 # # $a 14 с.  $c схем. 
300 # # $a В надзаг.: АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников. Список работ авт.: с. 13-14 (12 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Пчеляков  $b О. П.  $g Олег Петрович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070530  $g psbo