Методы интегральной диагностики полупроводниковых приборов и МДП-структур интегральных схем на основе эффектов нелинейности: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.27.01) / АН УССР, Ин-т кибернетики им. В. М. Глушкова
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Примаченко, И. А. |
Опубликовано: | Киев , 1986 |
Физические характеристики: |
15 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr28867290000 | ||
005 | 20070529191036.0 | ||
100 | # | # | $a 20070529d1986 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UA |
200 | 1 | # | $a Методы интегральной диагностики полупроводниковых приборов и МДП-структур интегральных схем на основе эффектов нелинейности $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.27.01) $f АН УССР, Ин-т кибернетики им. В. М. Глушкова |
210 | # | # | $a Киев $d 1986 |
215 | # | # | $a 15 с. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 14-15 (15 назв.). Для служеб. пользования |
686 | # | # | $a 05.27.01 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Примаченко $b И. А. $g Иван Андреевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |