Методы интегральной диагностики полупроводниковых приборов и МДП-структур интегральных схем на основе эффектов нелинейности: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.27.01) / АН УССР, Ин-т кибернетики им. В. М. Глушкова

Сохранено в:
Шифр документа: 12827/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Примаченко, И. А.
Опубликовано: Киев , 1986
Физические характеристики: 15 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr28867290000
005 20070529191036.0
100 # # $a 20070529d1986 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Методы интегральной диагностики полупроводниковых приборов и МДП-структур интегральных схем на основе эффектов нелинейности  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (05.27.01)  $f АН УССР, Ин-т кибернетики им. В. М. Глушкова 
210 # # $a Киев  $d 1986 
215 # # $a 15 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 14-15 (15 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Примаченко  $b И. А.  $g Иван Андреевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070529  $g psbo