Исследование метода контроля толщины однослойных и двухслойных покрытий на малых площадях с помощью бета-излучения и разработка бета-толщиномера покрытий широкого применения: (250): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Моск. ин-т электронного машиностроения
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Правиков, А. А. |
Опубликовано: | М. , 1970 |
Физические характеристики: |
32 с. : схем.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr28825430000 | ||
005 | 20070529183924.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [70-18753а] |
100 | # | # | $a 20070529d1970 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование метода контроля толщины однослойных и двухслойных покрытий на малых площадях с помощью бета-излучения и разработка бета-толщиномера покрытий широкого применения $e (250) $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук $f Моск. ин-т электронного машиностроения |
210 | # | # | $a М. $d 1970 |
215 | # | # | $a 32 с. $c схем. |
686 | # | # | $a 250 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Правиков $b А. А. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |