Исследование метода контроля толщины однослойных и двухслойных покрытий на малых площадях с помощью бета-излучения и разработка бета-толщиномера покрытий широкого применения: (250): Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Моск. ин-т электронного машиностроения

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ148711,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Правиков, А. А.
Опубликовано: М. , 1970
Физические характеристики: 32 с. : схем.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr28825430000
005 20070529183924.0
021 # # $a RU  $b [70-18753а] 
100 # # $a 20070529d1970 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование метода контроля толщины однослойных и двухслойных покрытий на малых площадях с помощью бета-излучения и разработка бета-толщиномера покрытий широкого применения  $e (250)  $e Автореф. дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук  $f Моск. ин-т электронного машиностроения 
210 # # $a М.  $d 1970 
215 # # $a 32 с.  $c схем. 
686 # # $a 250  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Правиков  $b А. А. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070529  $g psbo