Применение вторично-ионной масс-спектрометрии в промышленности

Сохранено в:
Шифр документа: 311998, 298885,
Вид документа: Книги
Автор: Попов, В. Ф.
Опубликовано: Л. : ЛДНТП , 1989
Физические характеристики: 23, [3] с. : ил. ; 22 см
Язык: Русский
Серия: Сер. «Управление качеством продукции, стандартизация, метрология, надежность, техи. эстетика, прогнозирование»
Предмет:
00000cam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr28683490000
005 20200414100908.0
010 # # $d 15 к. 
021 # # $a RU  $b [89-21245] 
100 # # $a 20070529d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Применение вторично-ионной масс-спектрометрии в промышленности 
210 # # $a Л.  $c ЛДНТП  $d 1989 
215 # # $a 23, [3] с.  $c ил.  $d 22 см 
225 2 # $a Сер. «Управление качеством продукции, стандартизация, метрология, надежность, техи. эстетика, прогнозирование»  $f Ленингр. Дом науч.-техн. пропаганды 
300 # # $a Библиогр.: с. 25 (12 назв.) 
345 # # $9 5600 экз. 
610 0 # $a Ионная эмиссия вторичная 
610 0 # $a Поверхностные слои - Масс-спектрометрические исследования 
675 # # $a 658.562.012.7:543.51 
700 # 1 $a Попов  $b В. Ф.  $g Владимир Федорович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070529  $g psbo